发明名称 |
一种发光二极管芯片制造方法 |
摘要 |
一种发光二极管芯片制造方法,在做芯片的常规工艺之前,采用掩膜技术,用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,再用磷酸(温度为100-220度)、熔融的KOH或加热的浓KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁或使芯片侧壁底部与蓝宝石衬底部分脱离,形成侧壁向内悬空3-40微米,采用SC-2溶液和有机溶液清洗外延片,再进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN,最后做常规工艺。实验结果表明,芯片的出光效率大大提升,其亮度和毫瓦数均比常规工艺芯片提升30%以上。 |
申请公布号 |
CN100541850C |
申请公布日期 |
2009.09.16 |
申请号 |
CN200810042186.1 |
申请日期 |
2008.08.28 |
申请人 |
上海蓝光科技有限公司;北京大学;上海半导体照明工程技术研究中心 |
发明人 |
朱广敏;张楠;郝茂盛;齐胜利;杨卫桥;陈志忠;张国义 |
分类号 |
H01L33/00(2006.01)I;H01S5/343(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 |
代理人 |
余明伟 |
主权项 |
1.一种发光二极管芯片制造方法,所述发光二极管芯片包括蓝宝石衬底、位于蓝宝石衬底上的N-GaN层、位于N-GaN层上的量子阱层以及位于量子阱层上的P-GaN层,采用掩膜后进行刻蚀,露出N-GaN及芯片走道,然后分别在芯片的同侧做透明电极和N、P电极,其特征在于,该方法进一步包括以下步骤:用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,然后用温度为100-220度的磷酸或用温度为100-300度的熔融的KOH或KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀3-30分钟,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁,再对芯片的走道的侧壁进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN层。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号 |