发明名称 一种发光二极管芯片制造方法
摘要 一种发光二极管芯片制造方法,在做芯片的常规工艺之前,采用掩膜技术,用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,再用磷酸(温度为100-220度)、熔融的KOH或加热的浓KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁或使芯片侧壁底部与蓝宝石衬底部分脱离,形成侧壁向内悬空3-40微米,采用SC-2溶液和有机溶液清洗外延片,再进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN,最后做常规工艺。实验结果表明,芯片的出光效率大大提升,其亮度和毫瓦数均比常规工艺芯片提升30%以上。
申请公布号 CN100541850C 申请公布日期 2009.09.16
申请号 CN200810042186.1 申请日期 2008.08.28
申请人 上海蓝光科技有限公司;北京大学;上海半导体照明工程技术研究中心 发明人 朱广敏;张楠;郝茂盛;齐胜利;杨卫桥;陈志忠;张国义
分类号 H01L33/00(2006.01)I;H01S5/343(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 代理人 余明伟
主权项 1.一种发光二极管芯片制造方法,所述发光二极管芯片包括蓝宝石衬底、位于蓝宝石衬底上的N-GaN层、位于N-GaN层上的量子阱层以及位于量子阱层上的P-GaN层,采用掩膜后进行刻蚀,露出N-GaN及芯片走道,然后分别在芯片的同侧做透明电极和N、P电极,其特征在于,该方法进一步包括以下步骤:用激光划片技术、ICP技术或RIE技术对芯片的走道刻蚀至蓝宝石衬底或刻入蓝宝石衬底5-50微米,然后用温度为100-220度的磷酸或用温度为100-300度的熔融的KOH或KOH溶液对芯片的侧壁和暴露在侧壁的N-GaN进行湿法腐蚀3-30分钟,使芯片形成倾斜角小于90度的侧壁,再对芯片的走道的侧壁进行ICP或RIE刻蚀至N-GaN层。
地址 201203上海市浦东新区张江高科技园区芳春路400号