发明名称 利用氧化物间隔部缩小间距
摘要 提供一种方法,用以蚀刻沉积于基板之上及于抗反射涂(antireflective coating,ARC)层与带有遮罩特征部的图案化有机遮层之下的蚀刻层。在处理腔室中放进一基板。开通ARC层。形成氧化物间隔部沉积层。部份移除有机遮层上的氧化物间隔部沉积层,其中至少移除此氧化物间隔部沉积层的顶端部份。藉由蚀刻而移除有机遮层与ARC层。经由氧化物间隔部沉积层的侧墙而蚀刻此蚀刻层。自处理腔室中移除基板。
申请公布号 TW200939302 申请公布日期 2009.09.16
申请号 TW097143356 申请日期 2008.11.10
申请人 兰姆研究公司 发明人 金智洙;蒋乃嘉;品川淳;沙价迪S M 瑞加
分类号 H01L21/027(2006.01);H01L21/311(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 许峻荣
主权项
地址 美国