| 发明名称 | 光学分析仪 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种按照射线吸收原理工作的光学分析仪(1)，具有：外壳(2)，该外壳带有至少一个透射射线的外壳元件(3)；至少一个射线源(4)和从属于该射线源的反射器(5)，带有至少一个第一检测器(6)和第二检测器(7)；以及布置在外壳(2)之外的外部反射器(8)，其中由所述外部反射器(8)和透射射线的外壳元件(3)形成吸收空间(9)，而且由射线源(4)和反射器(5)发射的测量射束(10)在外部反射器(8)上反射之后再次进入外壳(2)中，其中所述外部反射器(8)具有至少一个不反射所述测量射束的凹槽(12)，而且在该凹槽中或者空间上在该凹槽后面设有至少一个第三检测器(13)。 | ||
| 申请公布号 | CN101532955A | 申请公布日期 | 2009.09.16 |
| 申请号 | CN200910138739.8 | 申请日期 | 2009.02.16 |
| 申请人 | GFG工具制造有限责任公司 | 发明人 | H·-J·许布纳;R·克拉格 |
| 分类号 | G01N21/35(2006.01)I;G02B5/08(2006.01)I;G02B5/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/35(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 曹 若 |
| 主权项 | 1. 按照射线吸收原理工作的光学分析仪(1)，具有：外壳(2)，该外壳带有至少一个透射射线的外壳元件(3)；至少一个射线源(4)和从属于该射线源的反射器(5)，带有至少一个第一检测器(6)和一个第二检测器(7)；以及布置在外壳(2)之外的外部反射器(8)，其中由所述外部反射器(8)和透射射线的外壳元件(3)形成吸收空间(9)，而且从射线源(4)和反射器(5)射出的测量射束(10)在外部反射器(8)上反射之后再次进入外壳(2)中，其特征在于，所述外部反射器(8)具有至少一个不反射所述测量射束的凹槽(12)，而且在该凹槽中或者空间上在该凹槽后面设有至少一个第三检测器(13)。 | ||
| 地址 | 德国多特蒙德 | ||