一种微流道速度分布的测量装置和测量方法

摘要

本发明公开了一种微流道速度分布的测量装置和测量方法。该装置包括：一显微镜；一双脉冲激光器，一光量子检测器；一同步控制器；一处理器。该方法包括如下步骤：1)将各仪器调整至准备工作状态；2)向微流道注入荧光粒子溶液，驱动管道内液体流动；3)调节物镜的垂直位置直到微流道的下底面成像最清晰的位置；4)双脉冲激光照射得到的同一个粒子的两个光斑的间距在20～50像素；5)在双脉冲激光照射下，连续拍摄多帧图像；6)调整物镜焦平面到新的位置再拍摄多帧图像；7)重复步骤6)，拍摄不同位置的图像。本发明具有光学探测灵敏度高、流场速度探测空间分辨率高、垂直方向位移调节精度高的优点。

主权项

1、一种微流道速度分布的测量装置，包括：一显微镜(10)，该显微镜有一物镜(20)和一反射装置(17)；其特征在于，还包括：一双脉冲激光器(12)，该双脉冲激光器发出的激光经过一光学系统(11)进入所述显微镜(10)的反射装置(17)，激光反射进入所述物镜(20)并进入视场；一用于记录物镜(20)所观测的微流道(21)中荧光粒子的光强分布的光量子检测器(13)与所述显微镜(10)配合；一同步控制器(14)分别与所述光量子检测器(13)和双脉冲激光器(12)连接；一处理器(15)分别与所述同步控制器(14)、光量子检测器(13)连接，所述处理器(15)为一计算机；一用于调节所述物镜(20)位置的位移控制器(16)安装在所述物镜(20)上；所述物镜(20)为100X物镜；所述光量子检测器(13)采用Andor iXon DV885单光子检测器；所述位移控制器(16)为PI物镜纳米位移控制器，该PI物镜纳米位移控制器的位移调节范围100μm，位移调节精度10nm。