发明名称 | 化学机械抛光垫 | ||
摘要 | 本发明提供了适于对半导体基板、光学基板和磁性基板中的至少一种进行平面化的抛光垫。所述抛光垫包括聚合物基体,所述聚合物基体具有顶部抛光表面。所述顶部抛光表面具有聚合物抛光粗糙结构,或者在用磨料进行精整的过程中形成聚合物抛光粗糙结构。所述聚合物抛光粗糙结构是由具有以下特征的聚合物材料制成的:所述聚合物材料包含至少45重量%的硬链段,整体极限抗张强度至少为6500psi,即44.8兆帕,所述聚合物基体具有两相结构,包括硬相和软相,这两相结构中硬相平均面积与软相平均面积的比值小于1.6。 | ||
申请公布号 | CN100540225C | 申请公布日期 | 2009.09.16 |
申请号 | CN200710109253.2 | 申请日期 | 2007.05.25 |
申请人 | 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司 | 发明人 | M·J·库尔普 |
分类号 | B24D3/00(2006.01)I | 主分类号 | B24D3/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 沙永生 |
主权项 | 1.一种适于对半导体基板、光学基板和磁性基板中的至少一种进行平面化的抛光垫,所述抛光垫包括聚合物基体,所述聚合物基体具有顶部抛光表面,所述顶部抛光表面具有聚合物抛光粗糙结构,或者在用磨料进行精整的时候形成聚合物抛光粗糙结构,所述聚合物抛光粗糙结构从所述聚合物基体延伸,是所述顶部抛光表面可以与基板相接触的部分,所述抛光垫通过对顶部抛光表面进行磨耗或精整,由聚合物基体形成另外的聚合物抛光粗糙结构,所述聚合物抛光粗糙结构是由具有以下特征的聚合物材料制成的:所述聚合物材料包含至少45重量%的硬链段,整体极限抗张强度至少为6500psi,即44.8兆帕,所述聚合物基体具有两相结构,包括硬相和软相,这两相结构中硬相平均面积与软相平均面积的比值小于1.6。 | ||
地址 | 美国特拉华州 |