发明名称 | 晶片测试装置与探针卡电路 | ||
摘要 | 一种探针卡电路,包括讯号线、检测探针和开关模组。讯号线可以传输一测试回应讯号,并且透过开关模组耦接至检测探针。检测探针用来耦接至受测晶片的测试端。藉此,在受测晶片收到一测试电源而从测试端输出测试回应讯号时,检测探针就可以接收此测试回应讯号。另外,开关模组可以依据测试电源的状态,而决定是否将检测探针所接收的测试回应讯号导通至讯号线。 | ||
申请公布号 | TW200938853 | 申请公布日期 | 2009.09.16 |
申请号 | TW097107731 | 申请日期 | 2008.03.05 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 许家齐 |
分类号 | G01R31/02(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/02(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |