发明名称 | 闸极结构的制造方法 | ||
摘要 | 一种闸极结构的制造方法。首先,提供一基底,基底上已形成闸极介电层,且闸极介电层上形成有至少一介电柱。然后,在基底上方顺应性形成多晶矽层,覆盖住介电柱与闸极介电层。之后,进行一蚀刻制程,移除部分的多晶矽层,以于介电柱的侧壁形成二多晶矽间隙壁。接着,在基底上形成蚀刻终止层,以及形成介电层以覆盖蚀刻终止层、二多晶矽间隙壁与介电柱。然后,移除部分的介电柱与介电层,使介电柱与介电层的表面低于多晶矽柱的表面。随后,进行一自行对准金属矽化物制程,使多晶矽柱转变成金属矽化物柱。 | ||
申请公布号 | TW200939318 | 申请公布日期 | 2009.09.16 |
申请号 | TW097108499 | 申请日期 | 2008.03.11 |
申请人 | 和舰科技(苏州)有限公司 | 发明人 | 李秋德 |
分类号 | H01L21/28(2006.01);H01L21/027(2006.01) | 主分类号 | H01L21/28(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 中国 |