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发明名称
Halbleiter-Prüfeinrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Halbleiter-Speichers
摘要
申请公布号
DE112007002276(T5)
申请公布日期
2009.09.10
申请号
DE200711002276T
申请日期
2007.08.22
申请人
ADVANTEST CORPORATION
发明人
TABATA, MAKOTO
分类号
G11C29/40;G01R31/28;G11C29/56
主分类号
G11C29/40
代理机构
代理人
主权项
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