发明名称 用于控制冷冻干燥处理的方法和系统
摘要 一种用于监控和/或控制冷冻干燥装置(100)中的冷冻干燥处理的方法,冷冻干燥装置设置有干燥室(101),干燥室具有温控架装置(104),温控架装置用于对将被干燥的产品(30)的容器(50)进行支撑,该方法在所述冷冻干燥处理的主干燥阶段包括:通过关闭干燥室的隔离阀(111)来隔离干燥室(101),并在限定的压力采集时间(t<sub>f</sub>)内检测和采集在干燥室内的压力值(P<sub>c,mes</sub>)和温控架装置(104)的架温度(T<sub>shelf</sub>)(步骤1);计算产品(30)的产品温度(T)和多个与处理/产品相关的参数(T<sub>i0</sub>,R<sub>p</sub>,K<sub>v</sub>,L<sub>frozen</sub>,T<sub>B</sub>)(步骤2);计算直到主干燥阶段结束时的新的架温度(T’<sub>shelf</sub>)和架温度序列,从而最大化将所述产品温度(T)维持在所述最大允许产品温度(T<sub>MAX</sub>)之下的所述产品(30)的升华率。
申请公布号 CN101529189A 申请公布日期 2009.09.09
申请号 CN200780039415.8 申请日期 2007.09.19
申请人 泰事达技术有限公司 发明人 S·维拉迪;A·巴雷斯
分类号 F26B5/06(2006.01)I 主分类号 F26B5/06(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 屠长存
主权项 1.用于控制在冷冻干燥设备(100)中的冷冻干燥处理的方法,所述冷冻干燥设备设置有干燥室(101),所述干燥室具有对将被干燥的产品(30)的容器(50)进行支撑的温控架装置(104),所述方法包括在所述冷冻干燥处理的主干燥阶段期间的以下步骤:-通过关闭所述干燥室(101)的隔离阀(111)来隔离所述干燥室,并在限定的压力采集时间(tf)期间检测和采集在所述干燥室(101)内的压力值(Pc,mes)和所述温控架装置(104)的架温度(Tshelf)(步骤1);-计算产品(30)的产品温度(T)和多个与处理/产品相关的参数(Ti0,Rp,Kv,Lfrozen,TB)(步骤2);-计算直到所述主干燥阶段结束时的新的架温度(T’shelf)和架温度序列,其最大化将所述产品温度维持低于最大可允许产品温度(TMAX)的所述产品(30)的升华率(步骤3)。
地址 西班牙特拉萨