| 发明名称 | 优化将标记记录到记录载体的信息层上的写功率的方法和使用这种优化方法的记录装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种优化以(脉冲)辐射束照射信息层的方式将标记记录到记录载体的信息层上的写功率的方法，所述信息层具有在第一相(例如晶相)和第二相(例如非晶相)之间进行可逆变化的相。由于已知的用于1T写策略的方法通常不能用于nT写策略，n是大于1的整数，因此，本发明提出了一种新的方法，包括下述步骤：通过施加至少三个不同的写功率将测试标记图案记录(S1)到记录载体上，所述测试标记包括短标记，所述短标记具有预定的短标称扫描宽度，测量(S2)通过施加至少三个不同写功率获得的所述记录的短标记的扫描宽度，和基于测量到的扫描宽度与所述短标记的标称扫描宽度的偏差确定(S4)最佳写功率。 | ||
| 申请公布号 | CN100538835C | 申请公布日期 | 2009.09.09 |
| 申请号 | CN200580024021.6 | 申请日期 | 2005.07.07 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | B·蒂克;唐富龙 |
| 分类号 | G11B7/125(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/125(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王小衡;王忠忠 |
| 主权项 | 1. 一种优化以辐射束照射信息层的方式将标记记录到记录载体的信息层上的写功率的方法，所述信息层具有可在晶相与非晶相之间进行可逆变化的相，所述方法包括下述步骤：-通过施加至少三个不同的写功率将测试标记的图案记录(S1)到记录载体上，所述测试标记至少包括短标记，所述短标记具有预定的短标称扫描宽度，-测量(S2)通过施加至少三个不同的写功率记录的所述短标记的扫描宽度，-基于测量到的扫描宽度与所述短标记的短标称扫描宽度的偏差确定(S4)最佳写功率。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||