发明名称 |
测试多个干涉式调制器的方法、系统和设备及制造该系统的方法 |
摘要 |
本发明揭示对显示器进行光照的各种系统和方法。在一个实施例中,例如,一种方法包含向干涉式调制器施加电压波形,向所述干涉式调制器施加电压脉冲,检测光从所述干涉式调制器反射的反射率,和基于所述检测光的反射率来确定所述干涉式调制器的一个或一个以上质量参数,其中所述施加的电压脉冲促使所述干涉式调制器在激活与非激活状态之间或在非激活状态与激活状态之间改变。 |
申请公布号 |
CN100538800C |
申请公布日期 |
2009.09.09 |
申请号 |
CN200580032642.9 |
申请日期 |
2005.09.23 |
申请人 |
IDC公司 |
发明人 |
马尼什·科塔里;汤永康;布莱恩·J·加利;威廉·J·卡明斯 |
分类号 |
G09G3/34(2006.01)I;G09G3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/34(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
王允方;刘国伟 |
主权项 |
1. 一种测试多个干涉式调制器的方法,所述方法包括:向所述干涉式调制器施加电压波形,以在激活与释放状态之间或在释放状态与激活状态之间改变所述干涉式调制器的状态;在施加所述电压波形时检测从所述干涉式调制器反射的光作为时间的函数;和基于所述检测确定所述干涉式调制器的一个或一个以上响应时间参数。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |