发明名称 试样中的配体的分析方法和分析试样中的配体的装置
摘要 提供一种试样的分析方法,可以不受振荡和光学设计的影响,实现高精度的分析。该试样的分析方法中,将包含配体的试样与能够同该配体特异性结合的受体结合,一边向上述受体供给外部振荡,一边通过测量表面等离子共振角的频率特性,来分析由上述受体与上述配体的结合所产生的变化。该试样的分析方法例如在生物学、医学、药学和农学领域是有用的。
申请公布号 CN100538338C 申请公布日期 2009.09.09
申请号 CN200480031817.X 申请日期 2004.12.22
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 伴知晃;桐野秀树
分类号 G01N21/55(2006.01)I 主分类号 G01N21/55(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 陈英俊
主权项 1、一种试样中的配体的分析方法,其特征在于,准备:包含配体的试样;金属薄膜,在其单面上固定能够与上述配体特异性结合的受体,在其背面配置有光学棱镜,能引起表面等离子共振;照射计测光的照射机构;接收上述计测光的反射光的受光机构;以及,分析与上述受体结合了的配体的分析机构;使上述试样和上述金属薄膜接触,使上述试样中的上述配体与上述受体结合;利用上述照射机构,向上述金属薄膜的与固定有上述受体的面相反的面照射计测光;利用上述受光机构,接收在上述金属薄膜的与固定有上述受体的面相反的面上反射的上述计测光的反射光;利用上述分析机构,根据上述反射光检测由上述金属薄膜附近的介电常数的变化所引起的表面等离子共振角的变化;而且,准备向固定有上述受体的区域施加外部振荡的施加机构;一边利用上述照射机构照射上述计测光,一边利用上述施加机构向上述金属薄膜的固定有上述受体的面施加外部振荡;利用上述分析机构还得出对于外部振荡的表面等离子共振角的频率特性,根据该频率特性分析与上述受体结合了的上述试样中的配体。
地址 日本大阪府