发明名称 |
用于电磁场矢量测量的电光探针 |
摘要 |
本发明涉及一种用于测量在分析区域内电磁场的两种分量的设备,包括:光源(7),向保持偏振光纤(5)内发送沿着所述光纤轴偏振的光束的;布置在所述区域内的各向同性电光材料(21),用于通过使其轴与所述光纤轴相差45度角定向的四分之一波片(22)从所述光纤接收光束,并将光束送回所述光纤内,所述波片略微脱离关于其特性或其定向的调整;对送回所述光纤的所述光束进行相移的装置(13-14),设为施加相移(g),上述相移(g)与在沿所述光纤的特定介电轴对准的两种偏振之间施加的(q)相等并相反;用于分析从所述相移装置输出的所述波的定向和椭圆率的装置。 |
申请公布号 |
CN101529261A |
申请公布日期 |
2009.09.09 |
申请号 |
CN200780022507.5 |
申请日期 |
2007.06.15 |
申请人 |
格勒诺布尔国立综合理工学院;萨瓦大学 |
发明人 |
莱昂内尔·都维拉瑞特;桂尼叶·加柏莉 |
分类号 |
G01R29/08(2006.01)I;G01R29/14(2006.01)I |
主分类号 |
G01R29/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王 漪;王继长 |
主权项 |
1、一种用于测量在分析区域内电磁场的两种分量的设备,包括:光源(7),向保持偏振光纤(5)内发送沿着所述光纤轴偏振的光束的;布置在所述区域内的各向同性电光材料(21),用于通过使其轴与所述光纤轴相差45度角定向的四分之一波片(22)从所述光纤接收光束,并将光束送回所述光纤内,所述波片略微脱离关于其特性或其定向的调整;对送回所述光纤的所述光束进行相移的装置(13-14),设为施加相移(γ),上述相移(γ)与在沿所述光纤的特定介电轴对准的两种偏振之间施加的(θ)相等并相反;用于分析从所述相移装置输出的所述波的定向和椭圆率的装置,所述定向和椭圆率分别与在所述分析区域中的所述场的定向和强度有关。 |
地址 |
法国格勒诺布尔 |