发明名称 高分子化合物、酸发生剂、正型抗蚀剂组合物、和抗蚀图案形成方法
摘要 本发明提供一种可以构成能形成LER降低的高清晰度的图案的正型抗蚀剂组合物的高分子化合物、由该高分子化合物构成的酸发生剂、含有该高分子化合物的正型抗蚀剂组合物、和使用了该正型抗蚀剂组合物的抗蚀图案形成方法。所述高分子化合物含有:从具有酸解离性溶解抑制基团的(α-低级烷基)丙烯酸酯衍生的结构单元(a1)、用下述通式(a2-1)表示的结构单元(a2)、从含有含极性基团的脂肪族多环式基团的(α-低级烷基)丙烯酸酯衍生的结构单元(a3),在式中,R是氢原子或者低级烷基;A是2价的有机基团;B是1价的有机基团;X是硫原子或者碘原子;n是1或者2;Y是至少一个氢原子可以被氟原子取代的直链、支链或者环状的烷基。
申请公布号 CN100537623C 申请公布日期 2009.09.09
申请号 CN200580026129.9 申请日期 2005.07.01
申请人 东京应化工业株式会社 发明人 松丸省吾;竹下优;岩井武;羽田英夫
分类号 C08F220/38(2006.01)I;C08F220/22(2006.01)I;G03F7/039(2006.01)I;H01L21/027(2006.01)I 主分类号 C08F220/38(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李贵亮
主权项 1.一种高分子化合物,其特征在于,包含:从具有酸解离性溶解抑制基团的丙烯酸酯或α位被碳原子数1~5的低级烷基取代的丙烯酸酯衍生的结构单元(a1)、用下述通式(a2—1)表示的结构单元(a2)、和从含有含极性基团的脂肪族多环式基团的丙烯酸酯或α位被碳原子数1~5的低级烷基取代的丙烯酸酯衍生的结构单元(a3);【化1】<img file="C200580026129C00021.GIF" wi="654" he="689" />在式中,R是氢原子或者碳原子数1~5的低级烷基,A是碳原子数为1~20的直链状、支链状或环状的亚烷基,或者是从碳原子数为4~20的芳香环去除2个氢原子而成的基团,B是碳原子数为1~20的直链状、支链状或环状的烷基,或者是从碳原子数为4~20的芳香环去除1个氢原子而成的基团,X是硫原子或者碘原子,n是1或者2,Y是未取代的直链、支链或者环状的烷基、或者是至少一个氢原子被氟原子取代的直链、支链或者环状的烷基;所述结构单元(a1)、所述结构单元(a2)、所述结构单元(a3)的比例相对于构成该高分子化合物的全部结构单元,结构单元(a1)为10~80摩尔%,结构单元(a2)为0.01~70摩尔%,结构单元(a3)为10~35摩尔%。
地址 日本神奈川县