发明名称 半导体基板之蚀刻沟渠至矽中的方法、半导体基板之形成沟渠隔离之方法及形成复数个二极体之方法
摘要 本发明提供一种蚀刻沟渠至半导体基板之矽中的方法,其包括在半导体基板之矽上形成一遮罩,其中该遮罩包含经形成为穿过该遮罩之沟渠。使用该遮罩进行电浆蚀刻以形成沟渠至该半导体基板之矽中。在一实施例中,该电浆蚀刻包括使用包含SF#sB!6#eB!、含氧化合物及含氮化合物之前驱气体来形成一蚀刻电浆。在一实施例中,该电浆蚀刻包括一包含含硫组分、含氧组分及NF#sB!x#eB!之蚀刻电浆。
申请公布号 TW200937519 申请公布日期 2009.09.01
申请号 TW097145260 申请日期 2008.11.21
申请人 美光科技公司 发明人 库帕克M 萨伯曼尼恩
分类号 H01L21/3065(2006.01);H01L21/76(2006.01);H01L21/329(2006.01) 主分类号 H01L21/3065(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国