发明名称 |
半导体基板之蚀刻沟渠至矽中的方法、半导体基板之形成沟渠隔离之方法及形成复数个二极体之方法 |
摘要 |
本发明提供一种蚀刻沟渠至半导体基板之矽中的方法,其包括在半导体基板之矽上形成一遮罩,其中该遮罩包含经形成为穿过该遮罩之沟渠。使用该遮罩进行电浆蚀刻以形成沟渠至该半导体基板之矽中。在一实施例中,该电浆蚀刻包括使用包含SF#sB!6#eB!、含氧化合物及含氮化合物之前驱气体来形成一蚀刻电浆。在一实施例中,该电浆蚀刻包括一包含含硫组分、含氧组分及NF#sB!x#eB!之蚀刻电浆。 |
申请公布号 |
TW200937519 |
申请公布日期 |
2009.09.01 |
申请号 |
TW097145260 |
申请日期 |
2008.11.21 |
申请人 |
美光科技公司 |
发明人 |
库帕克M 萨伯曼尼恩 |
分类号 |
H01L21/3065(2006.01);H01L21/76(2006.01);H01L21/329(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/3065(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
美国 |