| 摘要 |
L'invention concerne un système de mesure des déformations d'une zone (6) d'un élément structurel (1), ledit système comprenant au moins une jauge comprenant un substrat rigide (8) sur la surface supérieure duquel est formé au moins un motif (7) d'un matériau apte à se déformer en délivrant un signal représentatif desdites déformations, ledit substrat étant agencé pour transmettre au motif (7) les déformations de la zone (6) lorsque la surface inférieure dudit substrat est reportée sur ladite zone, ledit système comprenant un élément déformable (9) et un dispositif de compression (12, 19) dudit élément sur la surface supérieure du substrat (8) de sorte que ledit substrat puisse être sollicité par les déformations de la zone (6), ledit système comprenant en outre des moyens de fixation (14, 17) dudit dispositif de compression sur l'élément structurel (1), lesdits moyens de fixation étant destinés à assurer le maintien dudit substrat sur la zone (6) par l'intermédiaire de l'élément déformable (9) qui est comprimé sur la surface supérieure du substrat (8). |
