Maßverkörperung, Messeinrichtung und Messverfahren zur Absolutpositionsbestimmung

摘要

Die Erfindung betrifft eine Maßverkörperung für eine Positionsmesseinrichtung, umfassend mindestens eine Messspur mit Inkrementalmarkierungen und mindestens eine Messspur mit Absolutmarkierungen. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Positionsmesseinrichtung, umfassend eine erfindungsgemäße Maßverkörerung sowie eine dazu relativ bewegliche Abtasteinrichtung zur Abtastung der Inkrementalmarkierungen und der Absolutmarkierungen. Um eine Maßverkörperung für ein Messsystem bereitzustellen, die einfach und kostengünstig herzustellen ist, eine absolute Positionsbestimmung ermöglicht und die Nachteile aus dem Stand der Technik überwindet, ist die erfindungsgemäße Maßverkörperung dadurch gekennzeichnet, dass die Inkrementalmarkierungen durch magnetisch aktive Elemente gebildet werden und die Absolutmarkierungen durch magnetisch passive Elemente gebildet werden.