发明名称 半导体存储器件以及其数据读出方法
摘要 本发明的半导体存储器件,其特征在于,具备:存储单元阵列,至少沿着列方向配置多个保持由第1数据以及第2数据构成的数据的存储单元;多个字线,沿着所述存储单元阵列的行方向配置,且连接在所述存储单元上;第1位线,沿着所述存储单元阵列的列方向配置,连接在所述存储单元上,在读出所述数据时,从所述存储单元读出所述第1数据;第2位线,沿着所述存储单元阵列的列方向配置,连接在所述存储单元上;位线预充电部,当从所述存储单元读出所述数据,并且检测到所述第1以及第2位线中,一方的位线的电位,从第1电位变化为低于该第1电位的第2电位时,使另一方的位线的电位从所述第2电位变化为所述第1电位;以及,位线选择部。
申请公布号 CN100533586C 申请公布日期 2009.08.26
申请号 CN200610058947.3 申请日期 2006.03.09
申请人 株式会社东芝 发明人 河野良洋
分类号 G11C7/10(2006.01)I 主分类号 G11C7/10(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1. 一种半导体存储器件,其特征在于,具备:存储单元阵列,至少沿着列方向配置多个保持由第1数据以及第2数据构成的数据的存储单元;多个字线,沿着所述存储单元阵列的行方向配置,且连接在所述存储单元上;第1位线,沿着所述存储单元阵列的列方向配置,连接在所述存储单元上,在读出所述数据时,从所述存储单元读出所述第1数据;第2位线,沿着所述存储单元阵列的列方向配置,连接在所述存储单元上,在读出所述数据时,从所述存储单元读出所述第2数据;位线预充电部,当从所述存储单元读出所述数据,并且检测到所述第1以及第2位线中,一方的位线的电位,从第1电位变化为低于该第1电位的第2电位时,使另一方的位线的电位从所述第2电位变化为所述第1电位;以及位线选择部,在读出所述数据时,在所述第1以及第2位线中,选择的所述一方的位线的电位从所述第1电位变化为所述第2电位的情况下,在下一次读出所述数据时,选择所述另一方的位线,而在选择的所述一方的位线的电位维持所述第1电位的情况下,在下一次读出所述数据时,也维持选择所述一方的位线的状态。
地址 日本东京都