基于直接X射线转换用于积分探测器的泄漏电流和残差信号补偿

摘要

本申请描述了一种X射线检测器，其使用与CMOS像素电路结合的直接X射线转换(DiCo)。DiCo材料必须在高电压下使用以实现高场强。这使得传感器易于产生泄漏电流，其伪造所测量的充电结果。此外，大部分直接转换材料遭受引起X射线图像序列中的时间伪差(鬼像)的大量残差信号。描述了一种电路，其感测传感器的暗电流，该暗电流包括源自传感器被X射线(再次)照射之前的先前照射的残差信号，并且以在照射期间仍然可以消耗暗电流(泄漏电流和残差信号)的方式冻结感测阶段末期的相关电路参数。因此，可以在不具有泄漏电流或残差信号所携带的电荷的情况下对由于X射线照射而在传感器中产生的电荷脉冲进行积分，从而获得对所沉积的X射线能量的更准确估计。

主权项

1、一种用于消除检查照射设备中的传感器的暗电流的方法，所述暗电流由源自先前照射的所述传感器的稳态泄漏电流和/或动态残差信号产生，所述方法包括如下步骤：在第一阶段(ST1)中，将预定电压(HV)施加到所述传感器并且感测输入至暗电流补偿设备中的所述暗电流(IL)；以及在第二阶段(ST2)中，冻结在所述第一阶段中消耗所述暗电流时所述暗电流补偿设备所具有的在所述暗电流补偿设备内的状态，同时在所述传感器处维持所述预定电压(HV)。