发明名称 位置检测装置
摘要 本发明揭示一种位置检测装置,提供力图实现位置检测装置的小型化、同时分辨率高。本发明的位置检测装置1中,第1电路体10的磁阻电路A及B具有基准磁阻元件+A1、从基准磁阻元件+A1偏移(1/4)λ或(3/4)λ配置的相对于基波的偶次高次谐波补偿用磁阻元件+A3、以及从基准磁阻元件+A1偏移(1/6)λ的相对于基波的三次高次谐波补偿用磁阻元件+A2,第2电路体20的磁阻电路A′及B′具有基准磁阻元件+A′1、将相邻的磁阻元件偏移(1/10)λ配置的相对于基波的五次高次谐波补偿用磁阻元件+A′2和+A′5、以及从基准磁阻元件+A′1偏移(4/15)λ配置的相对于三次高次谐波的五次谐波补偿用磁阻元件+A′2。
申请公布号 CN100533052C 申请公布日期 2009.08.26
申请号 CN200510128712.2 申请日期 2005.11.25
申请人 株式会社思考技研 发明人 白木学;多田纯一
分类号 G01B7/00(2006.01)I;G01D5/12(2006.01)I 主分类号 G01B7/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 沈昭坤
主权项 1. 一种位置检测装置,其特征在于,具有互相相邻配置的第1及第2电路体,第1及第2电路体与将不同磁极交替沿一个方向排列配置的磁化面相对配置,同时沿与磁极排列方向垂直的方向配置,各电路体配置成具有输出与磁化面的磁场强度相对应的电流的、由多个磁阻元件组成的磁阻电路、对磁阻电路设置的供电端、以及输出端,使得磁阻电路中多个磁阻元件串联连接,而且将各磁阻元件的电流通路互相平行,第1电路体及第2电路体的各磁阻电路具有基准磁阻元件、相对于基波的偶次高次谐波补偿用磁阻元件、以及相对于基波的奇次高次谐波补偿用磁阻元件。
地址 日本神奈川县