| 主权项 |
1.一种偏振式三波长光学元件检测计，其包括：一发光部，系用以发出一预定波长之第一光束；一扩散透光部，系供该第一光束通过而形成一第二光束；该第二光束系为非偏振光；一旋转台，其上系承置一待测光学元件，该待测光学元件系具有一平面；该旋转台系可被旋转而使得该平面沿一虚拟轴线旋转；该第二光束系以一入射角经该平面反射出而形成一第三光束；一偏振角确认部，系可移动至复数个不同之位置，在每一位置均可让该第三光束穿透而形成一第四光束，且在每一位置该偏振角确认部系可被旋转至少九十度，当旋转过程中若该第四光束之强度减弱至接近零，则代表此时之第三光束为偏振光，同时判定该位置对应之入射角为该待测光学元件在该预定波长之偏振角；藉此，利用三次之检测过程，各次之第一光束之预定波长均不同，而能获得三个偏振角之值；一资料比对部，系具有一资料库，其包含复数笔已知光学元件在预定波长下之三个偏振角之值，当经由前述三次检测过程所量得之三个偏振角之值与该资料库相对应之已知光学元件相同时，则可检测出该待测光学元件即为此已知的光学元件。2.如申请专利范围第1项所述之偏振式三波长光学元件检测计，其中：该偏振角确认部系包括一检偏器、一转动元件及一光撷取装置；该检偏器系设于该转动元件上，并可以该第三光束为轴心转动，该光撷取装置用以撷取该第四光束；该资料比对部又包括一微处理部，其用以比对该偏振角之值。3.如申请专利范围第1项所述之偏振式三波长光学元件检测计，其又包括两组滑道，配合该滑道设有复数个滑道座，该每一滑道座分别用以供该扩散透光部、该旋转台与该偏振角确认部固定，而可分别沿该滑道移动至预定位置。4.如申请专利范围第1项所述之偏振式三波长光学元件检测计，其中，该资料库系包含复数笔已知光学元件在预定波长下之三个折射率之值。图式简单说明：第一图系本创作之应用示意图第二图系第一图之局部结构的放大示意图第三图系本创作之待测光学元件转动至第一方向并反射出第三光束之示意图第四图系本创作之待测光学元件转动至第二方向并反射出第三光束之示意图第五图系本创作之待测光学元件转动至第三方向并反射出第三光束之示意图第六图系本创作之偏振角确认部位于第一检偏位置之示意图第七图系本创作之偏振角确认部位于第二检偏位置之示意图第八图系本创作之偏振角确认部位于第三检偏位置之示意图第九图系本创作之偏振角确认部位于第四检偏位置之示意图第十图本创作之方块图 |
