发明名称 测试插座用治具
摘要
申请公布号 TWM363590 申请公布日期 2009.08.21
申请号 TW098202207 申请日期 2009.02.16
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 台北县土城市自由街2号 发明人 陈铭佑
分类号 G01R1/04 (2006.01);G01R31/26 (2006.01) 主分类号 G01R1/04 (2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种测试插座用治具,用以装卸晶片模组,其包括:主体;卡持体,系卡设于主体上并可相对于主体上下移动;背板,系组设于主体上;弹性件,组设于卡持体与背板之间,其包括复数竖向排列之弹性臂以及连接相邻两弹性臂末端之连接部,所述连接部系由弹性臂末端以相对于竖向成一定角度之方式弯折延伸设置,且连接同一弹性臂两端之两连接部之弯折偏转方向相反,所述弹性件之侧视图呈波浪形。2.如申请专利范围第1项所述之测试插座用治具,其中所述弹性件之弹性臂系上下间隔且互相平行设置。3.如申请专利范围第2项所述之测试插座用治具,其中所述弹性臂为横向延伸设置之直臂。4.如申请专利范围第3项所述之测试插座用治具,其中所述主体与卡持体之间形成有第二收容空间,用以收容弹性件。5.如申请专利范围第1项所述之测试插座用治具,其中所述卡持体包括卡持部及自卡持部延伸设置之固持部。6.如申请专利范围第5项所述之测试插座用治具,其中所述卡持体之卡持部之厚度大于固持部之厚度。7.如申请专利范围第6项所述之测试插座用治具,其中所述卡持体之固持部系由卡持部之顶端延伸设置。8.如申请专利范围第1项所述之测试插座用治具,其中所述主体设有复数与卡持体相配合之通槽。9.如申请专利范围第1项所述之测试插座用治具,其中所述测试插座用治具进一步包括组设于主体上并可相对主体上下移动之晶片导引装置。10.如申请专利范围第1项所述之测试插座用治具,其中所述主体上设有用以收容晶片导引装置之第一收容空间。图式简单说明:第一图系先前技术测试插座用治具之立体分解图;第二图系本创作测试插座用治具之立体组装图;第三图系本创作测试插座用治具之另一视角之立体组装图;第四图系第二图所示测试插座用治具之立体分解图;第五图系第三图所示测试插座用治具之立体分解图;第六图系本创作测试插座用治具之弹性件之立体图;第七图系本创作测试插座用治具之弹性件之正视图;第八图系本创作测试插座用治具之弹性件之侧视图;第九图系本创作测试插座用治具之弹性件之俯视图;第十图系本创作测试插座用治具之主体与卡持体之组装立体图;第十一图系应用本创作测试插座用治具之电连接器之立体分解图;第十二图系本创作测试插座用治具作用在电连接器上之立体示意图;第十三图系沿第十一图XIII-XIII线之剖视图。
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