发明名称 |
硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法 |
摘要 |
硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法,提供了一种补偿图形的拓扑结构,由此拓扑结构可以产生出多种多样的直角形式凸角补偿图形,对于硅(100)衬底上制作的含有直角形式凸角,且该直角由两条<110>晶向为直边构成的目标器件结构,其直角补偿图形生成的过程由两个步骤实现:首先建立直角补偿图形的拓扑结构,然后根据直角补偿图形生成方法产生具体的直角补偿图形。硅的各向异性腐蚀技术是指在硅的腐蚀过程中,硅的不同晶面具有不同的腐蚀速率,采用硅各向异性腐蚀技术能够制造许多种微机电系统(MEMS)结构。本发明具有理论原理清晰,具体补偿生成方便、灵活的优点。同时,因为本发明所提供的技术方法具有明确的技术路径,非常适合应用到计算机辅助设计系统中。 |
申请公布号 |
CN101510509A |
申请公布日期 |
2009.08.19 |
申请号 |
CN200910030067.9 |
申请日期 |
2009.03.30 |
申请人 |
东南大学 |
发明人 |
李伟华;张涵 |
分类号 |
H01L21/306(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/306(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 |
代理人 |
叶连生 |
主权项 |
1、一种硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法,其特征是,对于硅(100)衬底上制作的含有直角形式凸角,且该直角由两条<110>晶向为直边构成的目标器件结构,其直角补偿图形生成的过程由两个步骤实现:首先建立直角补偿图形的拓扑结构,然后根据直角补偿图形生成方法产生具体的直角补偿图形。 |
地址 |
210096江苏省南京市四牌楼2号 |