发明名称 硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法
摘要 硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法,提供了一种补偿图形的拓扑结构,由此拓扑结构可以产生出多种多样的直角形式凸角补偿图形,对于硅(100)衬底上制作的含有直角形式凸角,且该直角由两条<110>晶向为直边构成的目标器件结构,其直角补偿图形生成的过程由两个步骤实现:首先建立直角补偿图形的拓扑结构,然后根据直角补偿图形生成方法产生具体的直角补偿图形。硅的各向异性腐蚀技术是指在硅的腐蚀过程中,硅的不同晶面具有不同的腐蚀速率,采用硅各向异性腐蚀技术能够制造许多种微机电系统(MEMS)结构。本发明具有理论原理清晰,具体补偿生成方便、灵活的优点。同时,因为本发明所提供的技术方法具有明确的技术路径,非常适合应用到计算机辅助设计系统中。
申请公布号 CN101510509A 申请公布日期 2009.08.19
申请号 CN200910030067.9 申请日期 2009.03.30
申请人 东南大学 发明人 李伟华;张涵
分类号 H01L21/306(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/306(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人 叶连生
主权项 1、一种硅(100)衬底各向异性腐蚀中直角结构补偿图形生成方法,其特征是,对于硅(100)衬底上制作的含有直角形式凸角,且该直角由两条<110>晶向为直边构成的目标器件结构,其直角补偿图形生成的过程由两个步骤实现:首先建立直角补偿图形的拓扑结构,然后根据直角补偿图形生成方法产生具体的直角补偿图形。
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