发明名称 |
光学位相检测的高精度硅微机电陀螺仪 |
摘要 |
本发明涉及一种光学位相检测的高精度硅微机电陀螺仪,光源的尾纤与光电探测器的入纤分别和Y型光耦合器的一根光纤熔接,在振梁上做微镜用于反射经Y型光耦合器尾纤的透射光,光电探测器探测微镜上的反射光与Y型光耦合器尾纤端面的反射光在经Y型光耦合器汇合形成的干涉条纹,光电探测器与检测与控制系统连接。本发明采用光学干涉原理,用光学位相测量方法来测量振动质量块的微小位移,从而提高了陀螺的检测灵敏度和读出精度,具有体积小、重量轻、高分辨率、低漂移、响应时间快和高的读出精度的特点,提高了陀螺的动态响应范围和检测精度,同时有利于进行数字滤波与信号传输处理,提高了系统抗干扰能力。 |
申请公布号 |
CN101509772A |
申请公布日期 |
2009.08.19 |
申请号 |
CN200910103328.5 |
申请日期 |
2009.03.06 |
申请人 |
重庆大学 |
发明人 |
任春华;潘英俊;魏彪;熊凝香 |
分类号 |
G01C19/56(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01C19/56(2006.01)I |
代理机构 |
重庆博凯知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李海华 |
主权项 |
1、光学位相检测的高精度硅微机电陀螺仪,其特征在于:它包括光源、Y型光耦合器、光电探测器、检测与控制系统和振梁式硅微机电陀螺本体,光源的尾纤和Y型光耦合器的一根光纤熔接,Y型光耦合器的另一根光纤与光电探测器的入纤熔接,Y型光耦合器的尾纤固定,在振梁上做微镜形成反射面用于反射经Y型光耦合器尾纤的透射光,光电探测器用于探测干涉条纹,该干涉条纹因微镜上的反射光与Y型光耦合器尾纤端面的反射光具有不同光程差,在经Y型光耦合器汇合产生干涉而形成,光电探测器信号输出端与检测与控制系统信号输入端连接。 |
地址 |
400044重庆市沙坪坝区沙正街174号 |