发明名称 | 用以测试集成电路的上电复位跳变点的方法和设备 | ||
摘要 | 本发明提供一种用于测试集成电路中的上电复位电路的电路,其包括耦合到所述集成电路的第一I/O焊盘的高压检测器。所述集成电路中的上电复位电路具有耦合到由高压供电的驱动器电路的输出。所述集成电路的第二I/O焊盘耦合到所述驱动器电路的所述输出。所述驱动器电路可由所述集成电路的第三I/O焊盘上提供的信号启用。 | ||
申请公布号 | CN101512360A | 申请公布日期 | 2009.08.19 |
申请号 | CN200780010954.9 | 申请日期 | 2007.03.29 |
申请人 | 爱特梅尔公司 | 发明人 | 王立琦;孙晋书;菲利普·额;约翰尼·陈 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 孟 锐 |
主权项 | 1. 一种用于测试集成电路中的上电复位电路的电路,其包括:安置在所述集成电路上中且具有输出的复制上电复位电路;耦合到所述集成电路的第一I/O焊盘的高压检测器电路;以及安置在所述集成电路上且耦合到所述复制上电复位电路的所述输出的驱动器电路,所述驱动器电路由所述第一I/O焊盘上呈现的高压供电,所述驱动器电路具有耦合到所述集成电路的第二I/O焊盘的输出。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |