| 发明名称 | 连续测量金属-绝缘体转变元件的突变的金属绝缘体转变的电路以及利用此电路的金属-绝缘体转变传感器 | ||
| 摘要 | 提供一种用于连续测量金属-绝缘体转变(MIT)元件的突变MIT的电路以及利用该电路的MIT传感器。所述电路包括：被测量对象单元，包括具有在转变电压处发生突变MIT的MIT元件；供电单元，施加预定的脉冲电流或电压信号给被测量对象单元；测量单元，测量MIT元件的突变MIT；以及微处理器，控制供电单元和测量单元。突变MIT测量电路连续地测量MIT元件的突变MIT，因此能够将其用作感知外部因素变化的传感器。 | ||
| 申请公布号 | CN101512351A | 申请公布日期 | 2009.08.19 |
| 申请号 | CN200780033295.0 | 申请日期 | 2007.07.05 |
| 申请人 | 韩国电子通信研究院 | 发明人 | 金铉卓;金俸准;李镕旭;尹善真;崔相国 |
| 分类号 | G01R19/165(2006.01)I | 主分类号 | G01R19/165(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 钱大勇 |
| 主权项 | 1、一种用于测量金属-绝缘体转变MIT元件的突变MIT的电路，包括：被测量对象单元，包含MIT元件，在它的转变电压处出现突变MIT；供电单元，将预定的脉冲电流或电压信号施加于被测量对象单元；测量单元，测量MIT元件的突变MIT；以及控制器，控制供电单元和测量单元。 | ||
| 地址 | 韩国大田市 | ||