发明名称 | 厚度测量仪 | ||
摘要 | 本实用新型提供了一种厚度测量仪,它包括:基座、测量转台、测量表;基座表面安装有相对基座可转动的测量转台;测量表具有测试头、表盘及操作钮,测试头垂直于所述测量转台所在的平面。该厚度测量仪还包括支架。支架由固定杆和横杆组成,横杆通过穿孔连接块连接固定杆;测量表安装在横杆上,固定杆安装于基座。本实用新型提供的厚度测量仪是在测量转台上放置待测物品—晶圆,因此可解决传统厚度测量仪测量的晶圆尺寸受限的问题。转动测量转台及调节横杆相对固定杆的角度和位置,可快捷地实现测量转台上晶圆不同位置厚度的测量,提高测量效率。 | ||
申请公布号 | CN201293627Y | 申请公布日期 | 2009.08.19 |
申请号 | CN200820154302.4 | 申请日期 | 2008.10.21 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 张新军;陈涛 |
分类号 | G01B5/06(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/06(2006.01)I |
代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人 | 屈 蘅;李时云 |
主权项 | 1、一种厚度测量仪,其特征是,包括:基座、测量转台、支架和测量表;所述测量转台安装在所述基座表面并且可相对基座转动;所述测量表通过支架连接至基座,且所述测量表包括垂直于所述测量转台表面设置的测试头。 | ||
地址 | 201203上海市张江路18号 |