发明名称 存储器装置
摘要 一种实现相变元件的保持特性的改善的相变存储器及其刷新方法。利用属于DRAM接口互换的存储器这一点,设置被给予与读出·写入次数对应的应力的伪单元(109,110),由比较电路(111,112)检出该伪单元的相变元件的阻抗值的变化,在阻抗值变为预先设定了的基准值及以上的场合(低阻抗化),刷新要求电路(107)对未图示的内部电路要求刷新动作,对存储器单元和伪单元一次进行刷新,补正相变元件的编程阻抗值的偏差,在确保余量的同时,实现保持特性的改善。
申请公布号 CN100530423C 申请公布日期 2009.08.19
申请号 CN200610005085.8 申请日期 2006.01.17
申请人 尔必达存储器株式会社 发明人 藤幸雄
分类号 G11C11/34(2006.01)I;G11C11/406(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I;G11C16/02(2006.01)I 主分类号 G11C11/34(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 陆锦华;樊卫民
主权项 1.一种存储器装置,其特征在于,包括:多个比特线和多个字线;多个存储器单元,所述存储器单元设置在比特线和字线的交叉部,具有可编程的阻抗元件;伪单元,所述伪单元具有可编程的阻抗元件,所述伪单元用于监视所述存储器单元的阻抗值;比较电路,对所述伪单元的阻抗值和所述存储器单元的基准阻抗值进行比较;以及刷新要求电路,根据由所述比较电路检测出的所述伪单元的阻抗值的变化,生成并输出用于进行所述存储器单元的刷新动作的信号。
地址 日本东京