发明名称 |
用于检测具有变化的横截面几何形状的轮廓面的柔性阵列探针 |
摘要 |
披露了一种柔性阵列探针,其适合于在非破坏性测试和检查具有变化的横截面形状的试样中使用。阵列元件,例如,但不限于,涡流传感器、压电传感元件和磁通泄漏传感器,安装在薄的调整叶片上,并沿着期望的旋转轴与成对的枢轴机构连接在一起。枢轴机构允许精确的在一维维度内旋转,以使柔性阵列探针调整它的元件垂直于被测结构的表面。也披露了调整和连接机构。 |
申请公布号 |
CN101509758A |
申请公布日期 |
2009.08.19 |
申请号 |
CN200810127736.X |
申请日期 |
2008.05.21 |
申请人 |
奥林巴斯NDT公司 |
发明人 |
B·勒帕热;M·罗伊;S·奥尔西 |
分类号 |
G01B7/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01B7/28(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
温大鹏 |
主权项 |
1、在非破坏性检测操作中使用的一种柔性阵列探针,所述探针包括:多个探针叶片,所述多个探针叶片包括第一探针叶片和最后探针叶片;多个探针元件,每一个探针元件固定到所述多个探针叶片中的一个;多个枢轴机构,位于所述探针叶片的每一个之间;至少一个具有第一端部和第二端部的线元件,所述线元件穿过所述多个探针叶片;至少一个固定元件,将每一个线元件的第一端部固定于至少一个探针叶片;和至少一个固定元件,将每一个线元件的第二端部固定于至少一个探针叶片。 |
地址 |
美国麻萨诸塞州 |