| 发明名称 | 可测试集成电路和IC测试方法 | ||
| 摘要 | 一种IC的电路部分(100)包括多个导电路径(130)，通过将导电路径(130)经至少一个启动开关(132)耦接到电源导轨(110)来将例如标准逻辑单元之类的各个电路部分元件(150)耦接到电源导轨(110)。电路部分(100)还包括用来在集成电路(600)的测试模式中对电路部分(100)上的电压梯度进行确定的元件(160)，元件(160)被导通地耦接到导电路径(130)。元件(160)具有第一末端部分(164)和第二末端部分(166)，在所述测试模式中，第一末端部分用来将元件(160)耦接到电源端子，第二末端部分用来将元件(160)耦接到输出端(620)。由此构造有助于通过测量元件(160)上的电压梯度来进行对电路部分(100)的I<sub>DDQ</sub>测试。 | ||
| 申请公布号 | CN101512361A | 申请公布日期 | 2009.08.19 |
| 申请号 | CN200780032978.4 | 申请日期 | 2007.09.04 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 何塞普·里乌斯·巴斯克斯;路易斯·埃尔维拉·比利亚格拉;林兹·I·M·P·迈耶 |
| 分类号 | G01R31/30(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈 源;张天舒 |
| 主权项 | 1. 一种集成电路(600)，具有电源端子、输出端(620)和电路部分(100)，该电路部分(100)包括用来将各个电路部分元件(150)耦接到电源导轨(110，120)的多个导电路径(130，140)，导电路径(130)经至少一个启动开关(132)被耦接到电源导轨(110)，电路部分(100)还包括用来在集成电路(600)的测试模式中对电路部分(100)上的电压梯度进行确定的元件(160)，元件(160)被导通地耦接到导电路径(130)，元件(160)具有第一末端部分(164)和第二末端部分(166)，在所述测试模式中，第一末端部分用来将元件(160)耦接到电源端子，第二末端部分用来将元件(160)耦接到输出端(620)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||