发明名称 铜溅射靶和形成铜溅射靶的方法
摘要 本发明包括一种含铜溅射靶。该靶是单块的或连接的,含至少99.99重量%铜并具有1-50微米的平均粒径。该含铜的靶的屈服强度大于或等于约15ksi,布氏硬度(HB)大于约40。本发明包括基本由少于或等于约99.99重量%铜和总量为至少100ppm-少于10重量%的合金化元素组成的铜合金单块溅射靶和连接溅射靶。在整个靶内,该靶具有小于1-50微米的平均粒径和小于约15%标准偏差(1-σ)的粒径不均匀性。本发明另外包括制造连接和单块铜和铜合金靶的方法。
申请公布号 CN100529163C 申请公布日期 2009.08.19
申请号 CN03822014.8 申请日期 2003.07.14
申请人 霍尼韦尔国际公司 发明人 V·塞加尔;易骛文;S·费拉泽;吴季哲;S·D·斯特罗特尔斯;F·A·阿尔福德;W·B·维莱特
分类号 C23C14/34(2006.01)I;C22F1/08(2006.01)I 主分类号 C23C14/34(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 范 赤;段晓玲
主权项 1.一种基本由以下组分组成的铜合金溅射靶:小于或等于约99.99重量%铜;至少一种选自以下元素中的合金化元素:Cd、Ca、Au、Ag、Be、Li、Mg、Al、Pd、Hg、Ni、In、Zn、B、Ga、Mn、Sn、Ge、W、Cr、O、Sb、Ir、P、As、Co、Te、Fe、S、Ti、Zr、Sc、Si、Pt、Nb、Re、Mo和Hf,靶中存在的该至少一种合金化元素的总量为至少100ppm-小于10重量%;该靶的硬度为至少40HB,其平均粒径为1-约50微米,整个靶内粒径均匀性标准偏差小于或等于约15%。
地址 美国新泽西州