| 发明名称 | 微观薄膜材料力学双轴测试试验台 | ||
| 摘要 | 本发明属于材料力学测试设备领域，特别涉及一种微观薄膜材料力学双轴测试试验台。试验台的结构为：矩形箱体的侧壁设置两根异面垂直的丝杠，每根丝杠的两侧各安置一根与之平行的导轨；丝杠的两端均穿过箱体的侧壁，一端用双螺母固定，另一端安装手轮；在每根丝杠上分别安装两个滑块；每个滑块均通过力传感器各连接一个夹具。使用本发明能够对薄膜材料施加不同的双轴应力，并可以置于温度箱中对薄膜材料在不同温度下的力学行为进行研究，结构简单，使用方便。 | ||
| 申请公布号 | CN101504342A | 申请公布日期 | 2009.08.12 |
| 申请号 | CN200910076650.3 | 申请日期 | 2009.01.12 |
| 申请人 | 清华大学 | 发明人 | 段政;王天罡;牛莉莎;施惠基 |
| 分类号 | G01N3/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张文宝 |
| 主权项 | 1. 微观薄膜材料力学双轴测试试验台，其特征在于，两根不在同一平面上垂直的上丝杠(31)和下丝杠(32)分别固定在箱体(9)的上下侧壁和左右侧壁上，上丝杠(31)的两侧各安置一根与之平行的上导轨(41)，下丝杠(32)的两侧各安置一根与之平行的下导轨(42)；上丝杠(31)和下丝杠(32)的两端分别穿过箱体(9)的上下侧壁和左右侧壁，一端用双螺母(8)固定，另一端安装手轮(7)并用双螺母(8)固定；在上丝杠(31)上安装两个上滑块(11)，下丝杠(32)上安装两个下滑块(12)；每个上滑块(11)和下滑块(12)均通过力传感器(5)各连接一个夹具(6)。 | ||
| 地址 | 100084北京市100084-82信箱 | ||