发明名称 |
AlN生长面复合基底的制备方法以及氮化物半导体器件 |
摘要 |
AlN生长面复合基底的制备方法以及氮化物半导体器件,涉及一种氮化物半导体材料。提供一种用于生长氮化物半导体材料的AlN生长面复合基底的制备方法及氮化物半导体器件。在衬底上生长AlN外延层,得AlN生长面复合基底。氮化物半导体器件设有AlN生长面复合基底、过渡层和氮化物半导体器件结构材料层。过渡层生长在AlN生长面复合基底上,过渡层由含Al的氮化物材料Al<sub>x</sub>In<sub>y</sub>Ga<sub>(1-x-y)</sub>N(0<x≤1,0≤y≤1)组成,氮化物半导体器件结构材料层生长在过渡层上,氮化物半导体器件结构材料层包含n型层、发光或吸收等功能结构层和p型层,其成分含有Al<sub>x</sub>In<sub>y</sub>Ga<sub>(1-x-y)</sub>N(0≤x≤1,0≤y≤1)。 |
申请公布号 |
CN101503826A |
申请公布日期 |
2009.08.12 |
申请号 |
CN200910111002.7 |
申请日期 |
2009.02.03 |
申请人 |
厦门大学 |
发明人 |
康俊勇;李书平;陈航洋;刘达艺;杨伟煌;林伟;李金钗 |
分类号 |
C30B29/40(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I;C30B25/02(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I;H01L21/08(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/40(2006.01)I |
代理机构 |
厦门南强之路专利事务所 |
代理人 |
马应森 |
主权项 |
1. AlN生长面复合基底的制备方法,其特征在于其具体步骤为:将衬底放置于化学气相沉积装置中,在衬底上生长AlN外延层,得具有AlN生长面的AlN生长面复合基底。 |
地址 |
361005福建省厦门市思明南路422号 |