发明名称 性能改善的N沟道ESD箝位电路
摘要 一种静电放电(ESD)保护电路使用两个N沟道场效应晶体管(NFET)来从第一电源节点向第二电源节点传导ESD电流。在ESD事件期间,ESD检测电路将两个NFET的栅极通过分离的导电路径都耦合到第一电源节点。在一个新颖方案中,RC触发电路包括通过电阻充电的电容。该电阻涉及到栅极耦合到第二NFET的栅极的P沟道晶体管。在正常加电状态期间,P沟道晶体管是导通的,由此防止如果电源电压VDD迅速升高RC触发器触发。在另一新颖方案中,新颖的电平移动倒相器驱动第二NFET。电平移动倒相器使用下拉电阻器来避免迅速跳回,还使第二NFET的栅极与电容性加载的第三电源节点隔离开。
申请公布号 CN101506976A 申请公布日期 2009.08.12
申请号 CN200780031455.8 申请日期 2007.08.24
申请人 高通股份有限公司 发明人 E·沃利;V·莫汉;R·扎利里赛纳利
分类号 H01L27/02(2006.01)I;H03K19/003(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 陈松涛
主权项 1、一种静电放电(ESD)保护电路,包括:第一电源节点;第二电源节点;具有栅极的第一N沟道场效应晶体管(NFET);具有栅极的第二NFET,其中所述第二NFET与所述第一NFET串联耦合,使得在静电放电(ESD)事件期间,ESD电流从所述第一电源节点经过所述第一NFET、经过所述第二NFET流到所述第二电源节点;以及ESD检测电路,在所述ESD事件期间,所述ESD检测电路将所述第一和第二NFET的所述栅极耦合到所述第一电源节点。
地址 美国加利福尼亚