发明名称 制造Ⅲ族氮化物衬底晶片的方法和Ⅲ族氮化物衬底晶片
摘要 本发明涉及制造III族氮化物衬底晶片的方法和III族氮化物衬底晶片。单面平面处理的III族氮化物晶片的质量取决于晶片在抛光板上的粘贴方向。通过以下步骤获得低表面粗糙度和高成品率,用具有等于或小于10μm厚度的热塑性蜡将多个III族氮化物生长状态的晶片粘贴在具有面向前(f)、向后(b)或向内(u)的OF或凹口的抛光板上、研磨生长状态的晶片、精磨已被研磨了的晶片、将精磨的晶片抛光成具有等于或小于200μm的水平宽度和等于或小于100μm的垂直深度的斜面的镜面晶片。
申请公布号 CN101504913A 申请公布日期 2009.08.12
申请号 CN200910126956.5 申请日期 2007.06.20
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 石桥惠二;入仓正登;中畑成二
分类号 H01L21/20(2006.01)I;H01L21/304(2006.01)I;H01L27/00(2006.01)I;H01L33/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 孙志湧;穆德骏
主权项 1. 一种制造III族氮化物衬底晶片的方法,包括如下步骤:准备三个或更多个III族氮化物衬底晶片,所述晶片具有等于或大于40mm的直径和长度为2mm至30mm的晶向平面OF;在与抛光板的旋转相关的OF面向前(f)、向后(b)或向内(u)的方向上,将所述三个或更多个III族氮化物衬底晶片胶合在圆形抛光板的底部上;以及将所述三个或更多个III族氮化物衬底晶片的表面进行平面处理,使之成为具有小于或等于200μm的水平宽度(e)和小于或等于100μm的垂直深度(g)的斜面的镜面表面。
地址 日本大阪府大阪市