| 主权项 |
1. 一种双折射测定方法，其使用光源、偏振元件、相位元件、检偏元件透射轴方位以固定的旋转角度进行变化的旋转检偏元件、以及感光器，在所述相位元件和所述旋转检偏元件之间插入测定对象，求出所述测定对象的延迟量，其特征在于，具有：第1光检测步骤，其在将所述偏振元件的透射轴固定在第1透射轴方位的状态下，使来自所述光源的光，经由所述偏振元件、所述相位元件、所述测定对象、以及所述旋转检偏元件，由所述感光器进行检测；第1光强度数据生成步骤，其在所述第1光检测步骤后，将所述旋转检偏元件的透射轴方位和该透射轴方位时由所述感光器检测出的光的强度相关联而生成第1光强度数据；透射轴方位变更步骤，其将所述偏振元件的透射轴从所述第1透射轴方位变更为与所述第1透射轴方位不同的第2透射轴方位；第2光检测步骤，其在将所述偏振元件的透射轴固定在所述第2透射轴方位的状态下，进行与所述第1光检测步骤相同的步骤；第2光强度数据生成步骤，其在所述第2光检测步骤后，进行与所述第1光强度数据生成步骤相同的步骤，生成第2光强度数据；主轴方位计算步骤，其基于所述第1或者第2光强度数据，求出所述测定对象的主轴方位；以及延迟量计算步骤，其基于所述测定对象的主轴方位、所述第1光强度数据、以及所述第2光强度数据，求出所述测定对象的延迟量。 |
