发明名称 |
一种液晶显示器基板测试装置及其测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种液晶显示器基板测试装置,涉及一种在液晶显示器制造过程中,在玻璃基板上制作导电图案后,对其进行检测的测试装置;包括电源、报警器、开关,和由导电材质制成的第一探针和第二探针,第一探针和第二探针之间串联接入电源,报警器和开关;在第一探针和第二探针之间设置一个探针间隙调解单元。进行测试时先通过探针间隙调解单元将第一探针和第二探针之间的间距调整到与待测液晶显示器基板上的电极之间的间距一致;再打开开关,使其处于导通状态,沿着所述电极的法线方向移动液晶显示器基板测试装置;当报警器产生报警时,则相邻电极间存在短路缺陷。本发明具有效率和可靠性较高,和成本低的特点,并且使用方便。 |
申请公布号 |
CN101504494A |
申请公布日期 |
2009.08.12 |
申请号 |
CN200910118877.X |
申请日期 |
2009.03.04 |
申请人 |
深圳市宇顺电子股份有限公司 |
发明人 |
宋宇红;杨顺林;邓建平;周宗文 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京英特普罗知识产权代理有限公司 |
代理人 |
孙丽芳 |
主权项 |
1. 一种液晶显示器基板测试装置,其特征在于:包括电源、报警器、开关,和一组导电材质制成的探针;其中,所述一组探针包括第一探针和第二探针,所述第一探针和第二探针之间串联接入电源,报警器和开关,第一探针和第二探针彼此未导通;在第一探针和第二探针之间设置一个探针间隙调解单元。 |
地址 |
518000广东省深圳市南山区高新中区麻雀岭工业区M-6栋(中钢大厦)三层二区 |