发明名称 具有沟槽结构的半导体器件及其制造方法
摘要 本发明涉及具有沟槽结构的半导体器件及其制造方法。在一个实施例中,一对侧壁钝化沟槽接触结构形成在衬底上,从而提供与次表面部件的电接触。掺杂区在这对侧壁钝化沟槽之间扩散,以便提供低电阻接触结构。
申请公布号 CN100527405C 申请公布日期 2009.08.12
申请号 CN200610080323.1 申请日期 2006.05.09
申请人 半导体元件工业有限责任公司 发明人 戈登·M.·格里瓦纳;彼得·J.·泽德贝尔
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 张 浩
主权项 1、一种半导体器件,包括:具有主表面和待接触部件的衬底;在衬底中形成并从主表面延伸的第一沟槽,所述第一沟槽具有在第一沟槽的暴露表面上形成的第一阻挡层、和在第一阻挡层之上形成的第一导电材料,其中第一导电材料通过第一阻挡层中的开口接触所述待接触部件;以及在衬底中形成并从主表面延伸的第二沟槽,所述第二沟槽具有在第二沟槽的暴露表面上形成的第二阻挡层、和在第二阻挡层之上形成的第二导电材料,其中第二导电材料通过第二阻挡层中的开口接触所述衬底。
地址 美国亚利桑那