发明名称 Röntgenstrahlen-Analysator
摘要 Es ist ein Röntgenstrahl-Analysator bereitgestellt, welcher dazu in der Lage ist, einen Einfluss von einem externen Magnetfeld auf einen Übergangskantensensor (TES) wesentlich zu unterdrücken. Der Röntgenstrahl-Analysator enthält: einen TES (7) zum Erfassen von einer Energie von einem empfangenen Röntgenstrahl als eine Temperaturänderung und Ausgeben der Temperaturänderung als ein Stromsignal; eine supraleitende Magnetabschirmung (8), welche den TES (7) enthält und einen supraleitenden Zustand einnimmt; und eine Raumtemperatur-Magnetabschirmung (9), welche die supraleitende Magnetabschirmung (8) bedeckt und eine externe Magnetfeldabschirmung durchführt, bis die supraleitende Magnetabschirmung (8) den supraleitenden Zustand einnimmt, wobei die supraleitende Magnetabschirmung (8) und die Raumtemperatur-Magnetabschirmung (9) konzentrisch angeordnet sind, um eine zylindrische Form anzunehmen.
申请公布号 DE102008062612(A1) 申请公布日期 2009.08.06
申请号 DE200810062612 申请日期 2008.12.17
申请人 SII NANOTECHNOLOGY INC. 发明人 TANAKA, KEIICHI;NAKAYAMA, SATOSHI;ODAWARA, AKIKAZU;IIJIMA, SUMIO;BANDOW, SHUNJI
分类号 G01T1/26;G01T1/36 主分类号 G01T1/26
代理机构 代理人
主权项
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