测试访问端口

摘要

传输测试指令，衰减测试指令和周期测试指令提供了在包括JTAG边界扫描单元的电路之间DC和AC互连电路的测试。只需要对测试访问端口电路以及边界扫描单元作少量添加就能实现所附加的指令。该指令扩展了常规的JTAG操作的结构。

主权项

1. 一种测试访问端口，包括：测试时钟输入；测试模式选择输入；测试数据IN输入；测试数据OUT输出；控制器，它连接着所述测试时钟输入和所述测试模式选择输入，所述控制器提供Clock—DR信号，Update—DR信号，Shift—DR信号以及Update—DR状态信号，还具有控制总线输入；指令寄存器，它连接着所述测试数据IN输入和所述测试数据OUT输出且具有连接着所述控制器的控制总线输出，所述指令寄存器还具有模式信号输出和捕获测试选通脉冲使能输出；边界扫描寄存器，它连接着功能数据信号，所述测试数据IN输入，所述测试数据OUT输出，所述模式信号输出，所述Update—DR信号和所述Shift—DR信号，所述边界扫描寄存器具有Clock—DR输入；延迟电路，它具有连接着所述测试时钟输入的输入且具有延迟的时钟输出；以及传输测试电路，它具有连接着所述延迟的时钟输出，所述捕获测试选通脉冲使能输出，所述Update—DR状态信号和所述Clock—DR信号的输入，并产生连接到所述边界扫描寄存器的Clock—DR输入的改进的Clock—DR输出，以测试由所述边界扫描寄存器接收的功能信号的传输。