发明名称 |
一种智能天线性能测试方法、装置及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种智能天线性能测试方法、装置及系统,应用于时分同步的码分多址接入TD-SCDMA系统中,该方法包括:根据预设数据产生上行有用信号和产生上行干扰信号,将产生的信号合并后输入信道仿真装置,信道仿真装置为多个信道配置信道仿真参数,生成多个信道的仿真信号,并将生成的仿真信号输入智能天线阵元对应的各个接收端口,智能天线对仿真信号进行解析,得到仿真信号的数据比特流;RNC模拟器比较仿真信号的数据比特流与预设数据的对应比特流,得到误块率BLER或误码率BER。这种对智能天线的多个阵元进行联合测试的方法,可以充分的模拟复杂的网络情况,使对智能天线接收解调性能的测试更加客观、准确。 |
申请公布号 |
CN101500254A |
申请公布日期 |
2009.08.05 |
申请号 |
CN200810057309.9 |
申请日期 |
2008.01.31 |
申请人 |
中国移动通信集团公司 |
发明人 |
金磊;丁海煜 |
分类号 |
H04W24/06(2006.01)I;H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04W24/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 |
代理人 |
魏 杉 |
主权项 |
1、一种智能天线性能测试方法,其特征在于,包括:根据预设数据生成仿真信号的源信号;根据基站的智能天线阵元设置一一对应的无线信道,并为每个无线信道配置信道仿真参数,由所述源信号和所述信道仿真参数生成每个信道的仿真信号;将所述仿真信号输出给所述基站的与每个智能天线阵元相对应的接收端口,由每个智能天线阵元接收所述仿真信号,并进行解析处理,得到所述仿真信号的数据比特流;将所述数据比特流与根据所述预设数据计算出的对应比特流进行比较,统计出误块率或误码率。 |
地址 |
100032北京市西城区金融大街29号 |