| 发明名称 | 光学检测治具 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种光学检测治具，该治具本体上设有多个用于固定背光源产品的定位槽，各定位槽纵横排列，且各定位槽的横向间距相同，纵向间距也相同。这种多工位的治具，一次校对初始被检点，就可检测多个产品，省去了对每个产品都需进行初始点校对的步骤，可大幅提高工作效率。 | ||
| 申请公布号 | CN201285345Y | 申请公布日期 | 2009.08.05 |
| 申请号 | CN200820146003.6 | 申请日期 | 2008.10.22 |
| 申请人 | 厦门京东方电子有限公司 | 发明人 | 王凯;钟剑;陈泳翔 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 厦门市新华专利商标代理有限公司 | 代理人 | 朱 凌 |
| 主权项 | 1、一种光学检测治具，其特征在于：该治具本体上设有多个用于固定背光源产品的定位槽，各定位槽纵横排列，且各定位槽的横向间距相同，纵向间距也相同。 | ||
| 地址 | 361100福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔虹路1号 | ||