| 发明名称 | 基于位数可选的EFlash串口测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基于位数可选的EFlash串口测试方法，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用16位数据并行操作(位数较多)的方式。本发明可以缩短测试时间，降低测试成本，提高产出率。 | ||
| 申请公布号 | CN100523849C | 申请公布日期 | 2009.08.05 |
| 申请号 | CN200510111429.9 | 申请日期 | 2005.12.13 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 陈凯华 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 1、一种基于位数可选的EFlash串口测试方法，其特征在于：位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用16位并行操作的方式。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||