发明名称 | 用于次表地层的定量岩性和矿物性评估的方法 | ||
摘要 | 描述了用于确定地层岩性和矿物性的方法与过程。根据该方法与过程,来自脉冲中子光谱应用的测井数据测量(12)及关联的工具响应参数是利用专家系统解决的,专家系统又生成合适的鉴别器并估计所分析地层的总体(14A)和特定(14B)岩性及矿物性(16)约束。该方法显示出与岩性和矿物性确定的传统方法之间良好的元素关联,并可以提供多种输出数据,包括地层带中的颗粒密度与孔隙率数据。 | ||
申请公布号 | CN101501531A | 申请公布日期 | 2009.08.05 |
申请号 | CN200780021737.X | 申请日期 | 2007.04.19 |
申请人 | 贝克休斯公司 | 发明人 | D·J·雅各比;J·M·朗古 |
分类号 | G01V5/04(2006.01)I | 主分类号 | G01V5/04(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李镇江 |
主权项 | 1、一种用于估计围绕钻孔的地层的岩性和矿物性的方法,该方法包括:以测井系统穿过钻孔;利用该测井系统从地层获得井筒数据;生成岩性成分模型;及通过进一步约束岩性成分模型而生成矿物性成分模型。 | ||
地址 | 美国得克萨斯 |