存储器测试电路和方法

摘要

为了测试以不同操作时钟操作的存储器并解决在物理上远程位置处的存储器中包括的延迟。本发明的存储器测试电路用处理器内核来测试处理器内核存储器和专用功能内核存储器，并包括：时钟选择器，用于接收用于处理器内核和用于专用功能内核的操作时钟以从两者中选择一个应用于处理器内核；控制单元，通过使用选择器，当测试处理器内核存储器时将用于处理器内核的操作时钟提供给处理器内核，以及当测试专用功能内核存储器时将用于专用功能内核的操作时钟提供给处理器内核。通过这种设置，能够测试以不同操作时钟运行并由专用功能内核使用的存储器。

主权项

1. 一种存储器测试电路，包括：处理器内核存储器；专用功能内核存储器；处理器内核，执行用于处理器内核存储器和专用功能内核存储器的测试；时钟选择器，其从输入的操作时钟中选择应用于处理器内核的时钟，将用于处理器内核的操作时钟提供给处理器内核以用于测试处理器内核存储器，以及将用于专用功能内核的操作时钟提供给处理器内核以用于测试专用功能内核存储器；以及输入选择器，其被连接到所述专用功能内核，并在专用功能内核和处理器内核之间切换，用于将控制信号和数据应用于专用功能内核存储器。