| 发明名称 | 获取器件的测试数据 | ||
| 摘要 | 获取被测器件的测试数据包括：通过利用渐进采样在参数范围内的第一点处测试该器件，获取该测试数据的第一部分；以及通过利用自适应采样在该参数范围内的第二点处测试该器件，获取该测试数据的第二部分。 | ||
| 申请公布号 | CN101501515A | 申请公布日期 | 2009.08.05 |
| 申请号 | CN200680028653.4 | 申请日期 | 2006.07.28 |
| 申请人 | 泰瑞达公司 | 发明人 | 马克·E·罗森 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 谷惠敏;钟 强 |
| 主权项 | 1. 一种用于获取被测器件的测试数据的方法，包括：通过利用渐进采样在参数范围内的第一点处测试所述器件，获取所述测试数据的第一部分；以及通过利用自适应采样在所述参数范围内的第二点处测试所述器件，获取所述测试数据的第二部分。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞 | ||