发明名称 | 测试装置 | ||
摘要 | 一种测试装置,用于对被测试元件进行测试,此测试装置包括:多个测试单元,映射于控制汇流排的位址空间,对被测试元件进行测试;控制处理器,执行多个测试控制程式,分别对与各个测试控制程式对应的测试单元进行控制;多个位址暂存器,映射于控制处理器的位址空间,自控制处理器接受对于任一个测试单元的、在控制汇流排的位址空间上的位址的写入并加以存储;以及多个资料暂存器,映射于控制处理器的位址空间,与多个位址暂存器一一对应地设置,用于存储在与藉由对应的位址暂存器所存储的位址而指定的测试单元之间进行读写的资料。 | ||
申请公布号 | TW200933641 | 申请公布日期 | 2009.08.01 |
申请号 | TW097149274 | 申请日期 | 2008.12.17 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 熊木德雄 |
分类号 | G11C29/18(2006.01) | 主分类号 | G11C29/18(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |