| 主权项 |
1.一种有机冷光装置(1)之彩色修正方法，该装置具有包含一冷光材料层(5)的至少一像素(6)，该层是夹层于第一和第二电极(2，3)间，该像素构成第一及第二发光元件(6R，6G)，其中该方法包含下列步骤：(i)输入一包含待由该发光元件(6R，6G)显示的资讯之资料信号(S)，(ii)为每一发光元件(6R，6G)产生一修正系数，该修正系数藉由测量以下而取得：在一预定电流(Is)流经该发光元件时横跨一发光元件(6R，6G)期间的一电压(V)变化及该发光元件之所测量的电压变化及一色彩点波长变化(Δλ)间之一关系，或在一预定电压(Vs)横跨该发光元件期间流经一发光元件(6R,6G)的一电流(I)变化及该发光元件(6R，6G)之所测量的电流变化及一色彩点波长变化Δλ间之一关系，(iii)将该修正系数施于该资料信号(S)；及(iv)将修正资料信号(S)施于发光元件(6R，6G)。2.如申请专利范围第1项之方法，其中该修正系数包含具有一关于电压施于一发光元件(6R或6G)，或电流施于该发光元件(6R或6G)，及发光元件的波长变化Δλ间关系的预先测量资讯的一搜寻表。3.如申请专利范围第1项之方法，另包含在预定时间周期传送具预定电流(Is)的发光元件(6R，6G)之一的步骤，测量发光元件(6R，6G)上电压(V)于该预定电流(Is)传送过发光元件(6R，6G)时，计算该被测量的电压(V)和预定电流(Is)下预先电压(V0)间的一电压变化ΔV，及输出一以电压变化ΔV为基础对应发光元件(6R，6G)的波长变化Δλ的一修正系数。4.如申请专利范围第3项之方法，其中发光元件(6R，6G)的波长变化Δλ计算为：Δλ=kΔV，其中k是一修正系数及其中k是为每一发光元件(6R，6G)或每种型式发光元件预先储存的。5.如申请专利范围第3项之方法，其中该预先电压V0是一在制造装置(1)时测量到横跨发光元件(6R，6G)的一初始电压。6.如申请专利范围第3项之方法，其中该预先电压V0是一在驱动该装置时测量到横跨发光元件(6R，6G)的一电压。7.如申请专利范围第1项之方法，包含在预定时间期间传送具一预定电压(Vs)的发光元件(6R，6G)的步骤，测量发光元件(6R，6G)上电流(I)于该预定电压(Vs)施于发光元件(6R，6G)时，计算该被测量的电流(I)和预定电流(Is)下预先电流I0间的一电流变化ΔI，及输出一以电流变化ΔI为基础对应发光元件(6R，6G)的波长变化Δλ的一修正系数。8.如申请专利范围第7项之方法，其中发光元件(6R，6G)的波长变化Δλ计算为：Δλ=kΔI，其中k是一修正系数及其中k是为每一发光元件(6R，6G)或每种型式发光元件预先储存在修正装置(10)的。9.如申请专利范围第1项之方法，其中该冷光材料层(5)包含一多元酯发光材料，一有机发光材料，或一多元酯及一有机发光材料的混合。10.如申请专利范围第1项之方法，其中该系数系以每一发光元件(6R，6G)所输出光为基础提供该像素一实质恒定整体彩色点。11.一种用于一有机冷光装置(1)的驱动装置(7)，包含一夹层于第一和第二电极型态(2，3)间的一冷光材料层(5)，其中该型态界定至少一像素(6)，包含至少一第一及一第二发光元件(6R，6G)，该驱动装置(7)则连接至电极(2，3)及配置以将一电流(I)施于冷光材料以获致来自该材料的发光，该驱动装置(7)包含：一输入连接(8)，用以输入一包含待由该发光元件(6R，6G)显示的资讯之资料信号(S)，一修正装置(10)，用以将一修正系数施于该资料信号(S)，该修正系数则是基于一彩色点变化及将一电压(V)施于发光元件(6R，6G)及一电流(I)流经发光元件(6R，6G)之一内的一测量的变化间之一关系，及一输出装置(9)，用以输出该彩色修正资料信号至发光元件(6R，6G)。图式简单说明：图1a是图示一波长变化及冷光显示器上之一电压如同该显示器所给予之一恒定整体驱动时间的函数。图1b则图示电压变化及该冷光显示器的波长变化间关系。图2则图示一冷光显示器的一具体例，其中根据本发明的一种方法及一种装置可被使用。 |
