发明名称 | 检测和修正光罩图案的方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种检测和修正光罩图案之方法,包含有:输入一光罩图案,其中该光罩图案系由至少一线段所构成;输入一制程规则;选取该线段中符合一定位模式的一边线作为一目标边线,其中该目标边线的两端点分别为一前检查点和一后检查点,且该前检查点和该后检查点各包含有至少一检测方向;沿着该等检查方向于该光罩图案中识别出一相对边线;进行一制程规则检测,提供一修正值;提供一第一偏差值以对该目标边线进行一第一修正;以及提供一第二偏差值以对该相对边线进行一第二修正,其中该第一偏差值和该第二偏差值的总和等于该修正值。 | ||
申请公布号 | TW200933696 | 申请公布日期 | 2009.08.01 |
申请号 | TW097102620 | 申请日期 | 2008.01.24 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 杨育祥;郭惠芳 |
分类号 | H01L21/027(2006.01);G03F1/08(2006.01) | 主分类号 | H01L21/027(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |