发明名称 Halbleiterstruktur und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterstruktur
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Halbleiterstruktur, umfassend eine n-Metallisierung und eine p-Metallisierung (7) sowie ein Halbeitersubstrat mit einem n-dotierten Basisbereich und einem zumindest teilweise daran angrenzenden p-dotierten Emitterbereich (2), zur Ausbildung eines Emitter/Basis-pn-Übergangs, wobei der Emitterbereich (2) sich zumindest teilweise in etwa parallel zu einer Emitter-Oberfläche (2b) des Halbleitersubstrates erstreckt und die n-Metallisierung mit dem Basisbereich und die p-Metallisierung (7) mit dem Emitterbereich (2) elektrisch leitend verbunden ist. Wesentlich ist, dass die Halbleiterstruktur zusätzlich einen n-dotierten Passivierungsbereich (5) umfasst, welcher zumindest teilweise zwischen der Emitter-Oberfläche (2b) und dem Emitterbereich (2) angeordnet ist, wobei der Passivierungsbereich (5) weder mit der n-Metallisierung noch mit der p-Metallisierung (7) elektrisch leitend verbunden ist. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Herstellung solch einer Halbleiterstruktur.</p>
申请公布号 DE102008005398(A1) 申请公布日期 2009.07.30
申请号 DE20081005398 申请日期 2008.01.21
申请人 FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.;ALBERT-LUDWIGS-UNIVERSITAET FREIBURG 发明人 SCHULTZ-WITTMANN, OLIVER;BENICK, JAN;HERMLE, MARTIN
分类号 H01L31/0216;H01L31/068;H01L31/18 主分类号 H01L31/0216
代理机构 代理人
主权项
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