发明名称 |
Halbleiterstruktur und Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterstruktur |
摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Halbleiterstruktur, umfassend eine n-Metallisierung und eine p-Metallisierung (7) sowie ein Halbeitersubstrat mit einem n-dotierten Basisbereich und einem zumindest teilweise daran angrenzenden p-dotierten Emitterbereich (2), zur Ausbildung eines Emitter/Basis-pn-Übergangs, wobei der Emitterbereich (2) sich zumindest teilweise in etwa parallel zu einer Emitter-Oberfläche (2b) des Halbleitersubstrates erstreckt und die n-Metallisierung mit dem Basisbereich und die p-Metallisierung (7) mit dem Emitterbereich (2) elektrisch leitend verbunden ist. Wesentlich ist, dass die Halbleiterstruktur zusätzlich einen n-dotierten Passivierungsbereich (5) umfasst, welcher zumindest teilweise zwischen der Emitter-Oberfläche (2b) und dem Emitterbereich (2) angeordnet ist, wobei der Passivierungsbereich (5) weder mit der n-Metallisierung noch mit der p-Metallisierung (7) elektrisch leitend verbunden ist. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zur Herstellung solch einer Halbleiterstruktur.</p> |
申请公布号 |
DE102008005398(A1) |
申请公布日期 |
2009.07.30 |
申请号 |
DE20081005398 |
申请日期 |
2008.01.21 |
申请人 |
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.;ALBERT-LUDWIGS-UNIVERSITAET FREIBURG |
发明人 |
SCHULTZ-WITTMANN, OLIVER;BENICK, JAN;HERMLE, MARTIN |
分类号 |
H01L31/0216;H01L31/068;H01L31/18 |
主分类号 |
H01L31/0216 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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